原位表征技术在固态电池界面研究中的应用
, 李焯华Application of In-Situ Characteristic Technology in Studying Interfaces of Solid-State Battery
CHANG Yi1, , LI Zhuo-hua2 , ZHAO Rui-rui2
, LI Zhuo-hua
原位表征技术在固态电池界面研究中的应用 |
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常毅, 李焯华 |
Application of In-Situ Characteristic Technology in Studying Interfaces of Solid-State Battery |
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CHANG Yi
, LI Zhuo-hua |
| Si层厚度为45 nm的Cu/Si/LLZTO/Li电池极化过程中的原位SEM研究[ 18 ]：（a）原始界面的SEM图像,（b ~ e）极化15 min、30 min、45 min和60 min后的界面形态,（f ~ h）反向极化15 min、30 min和45 min后的界面形态;Si层厚度为360 nm的Cu/Si/LLZTO/Li电池极化过程中的原位SEM研究：原始界面的SEM图像（i）和极化15 min、30 min、45 min（j ~ l）后的界面形态 |
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